FIB Scios2

 

Scios_1

FIB ThermoFisher Scios 2: Frontansicht

 

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 Blick ins FIB-Labor

 

Scios_4_aufbau

 Schematischer Aufbau des Gerätes

 

Scios_5_ion_solid_interactions

 Wechselwirkung der Ga-Ionen mit dem Festkörper

 

Scios_6_pt_deposition

 Schematischer Vorgang einer Platinabscheidung

 

Detektoren des FIB-Gerätes

 

Scios_8_everhart_thornley_detector

 Everhart-Thornley Detektor:  detektiert Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen bei e-beam und i-beam Modus

 

Scios_7_trinity_detector

    

Scios_9_stem_detector

Trinity Detektoren: befinden sich
innerhalb der unteren Linse,
detektieren SE (T2) und BSE (T1)
bei e-beam Modus

 

STEM Detektor: Halbleiter-Diode montiert auf einem
einziehbaren Arm, geteilt in Ringsegmente zur
BF-, ADF-, HAADF-Aufnahmen

 

 

 

Letzte Änderung: 12.04.2023 - Ansprechpartner: Webmaster