REM-Untersuchungen am JEOL JSM 5410 / Bildergalerie

Abbildende Untersuchungen (Sekundärelektronenkontrast) mit mikroskopischer und submikroskopischer Auflösung

Nickelbasislegierung nach Oberflächenbehandlung
REM-Aufnahme einer polykristallinen Nickelbasislegierung nach mechanischem Polieren und Ionenätzen

Materialkonstrast von Mikrobereichen (BSE-Kontrast)

Rückstreuelektronenkontrast einer Nickelbasislegierung
Durch Synthesegas korrodierte und erodierte Oberfläche einer Nickelbasislegierung (weiß-Nickelkristalle,
dunkel - Al2O3, grau Mischkristallmatrix)

Rückstreuelektronenkontrast einer Verschleißgleitschicht
BSE-Kontrast einer Verschleißgleitschicht aus Teflon mit C-Faser auf Sinterbronze

Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

EDX-Analyse einer Nickelbasislegierung
EDX-Spektrum und EDX-Maps einer Nickelbasislegierung