REM-Untersuchungen am JEOL JSM 5410 / Bildergalerie

• Abbildende Untersuchungen (Sekundärelektronenkontrast) mit mikroskopischer und submikroskopischer Auflösung

REM-Aufnahme einer polykristallinen Nickelbasislegierung nach mechanischem Polieren und Ionenätzen

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• Materialkonstrast von Mikrobereichen (BSE-Kontrast)

 

Durch Synthesegas korrodierte und erodierte Oberflöche einerNickelbasislegierung (weiß-Nickelkristalle,
dunkel - Al2O3, grau Mischkristallmatrix)

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BSE-Kontrast einer Verschleißgleitschicht aus Teflon mit C-Faser auf Sinterbronze

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• Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

EDX-Spektrum und EDX-maps einer Nickelbasislegierung