BREM-Untersuchungen am Hitachi S4800 / Bildergalerie

Abbildende Untersuchuen (Sekundärelektronenkontrast) mit mikroskopischen und submikroskopischen Auflösung

Elektronenmikroskopiebild von Pollen
REM-Aufnahme von Pollen (in Kooperation mit FNW / ABP)

Optisches Gitter in TiN (in Kooperation mit AMP)

TiN/Ir-Beschichtung auf lithograpisch modifizierter SiO₂-Oberfläche (in Kooperation mit FEIT / IMOS)

TiN/Ir-Beschichtung auf modifizierter SiO2-Oberfläche
TiN/Ir-Beschichtung auf lithograpisch modifizierter SiO₂-Oberfläche (in Kooperation mit FEIT / IMOS)

Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

Bonzeteilchen in geschmiedeter Metallscheibe
Bronzezeitlich in geschmiedeter Metallscheibe und EDX-Analysespektren