REM-Untersuchungen / Bildergalerie
- Abbildende Untersuchungen (Sekundärelektronenkontraste) mit mikroskopischer und submikroskopischer Auflösung
Epikatisch gezüchtetes GaN auf einem Si(001)-Substrat
3D-Wachstum von ZnO
3D-Wachstum von ZnO
3D-Wachstum von ZnO
Wachstumsfehler in einer a-plane GaN-Schicht
- Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofil)
- TEM-Untersuchung im REM
Multilayer(GaAs/AlAs)-System im STEM-Konstast