TEM-Untersuchungen / Bildergalerie
- Abbildende Untersuchungen auf submikroskopischen Niveau
Kolloidale Goldnanopartikel für medizinische Tests
- Charakterisierung der Defektmorphologie
Bild links: Orientierungskontrast an einem Korngrenzentripelpunkt mit Versetzungslinien (oben rechts), Material - Eisen
Bild rechts: Orientierungskontrast an einer Kleinwinkelkorngrenze, Material - Eisen
Versetzungslinien in einer MoSiB-Legierung mit typischen "Schmetterlings"-Kontrast
Versetzungslinien und Versetzungsring in einer MoSiB-Legierung für den Hochtemperatureinsatz
- Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)
Energiedispersieve Analyse von Bariumsulfat-Nanopartikel auf einem Kohlenstofffilm
- Hochauflösende TEM-Aufnahmen zur Charakterisierung von Gitterstruktur und Gitterfehler
Hochauflösende Aufnahme (HR-TEM) der atomaren Struktur von GaN nach Fourier-Bearbeitung
HR-TEM Abbildung des epitaktischen Übergangs zwischen Si und AlN (ohne Nachbearbeitung)
HR-TEM Abbildung des Übergangs vom kristallinen Si zum amorphen SiOx.
Die eingelegten Bilder zeigen die jeweilige Fourieranalyse der Grauwertverteilung
- Charakterisierung der Kristallstruktur mittels Elektronenbeugung
Subkörner in eienr hochverformten Ni-Basislegierung. Das Elekronenbeugungsbild zeigt eine Rotation zwischen den Subkörnern