TEM-Untersuchungen / Bildergalerie

  • Abbildende Untersuchungen auf submikroskopischen Niveau

msztem_beisp_nano01
Kooloidale Goldnanopartikel für medizinische Tests


 

  • Charakterisierung der Defektmorphologie

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Bild links: Orientierungskontrast an einem Korngrenzentripelpunkt mit Versetzungslinien (oben rechts), Material - Eisen
Bild rechts: Orientierungskontrast an einer Kleinwinkelkorngrenze, Material - Eisen



msztem_beisp_vers01
Versetzungslinien in einer MoSiB-Legierung mit typischen "Schmetterlinks"-Kontrast



msztem_beisp_vers02
Versetzungslinien und Versetzungsring in einer MoSiB-Legierung für Hochtemperatureinsatz



Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

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Energie-dispersieve Analyse von Bariumsulfat-Nanopartikel auf einem Kohlenstofffilm


 

  • Hochauflösende TEM-Aufnahmen zur Charakterisierung von Gitterstruktur und Gitterfehler

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Hochauflösende Aufnahme (HR-TEM) der atomaren Struktur von GaN nach Fourier-Bearbeitung



msztem_beisp_hrtem03
HR-TEM Abbildung des epitaktischen Übergangs zwischen Si und AlN (ohne Nachbearbeitung)



msztem_beisp_hrtem05
HR-TEM Abbildung eines Gitterdefekts (Versetzung) im GaN



msztem_beisp_hrtem02
HR-TEM Abbildung des Übergangs vom kristallinen Si zum amorphen SiOx.
Die eingelegten Bilder zeigen die jeweilige Fourieranalyse der Grauwertverteilung



Charakterisierung der Kristallstruktur mittels Elektronenbeugung

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Subkörner in eienr hochverformten Ni-Basislegierung und ELekronenbeugungsbild, zeigt die Rotation zwischen den Subkörnern




Letzte Änderung: 11.11.2019 - Ansprechpartner: Webmaster