REM-Untersuchungen am JEOL JSM 5410 / Bildergalerie
- Abbildende Untersuchungen (Sekundärelektronenkontrast) mit mikroskopischer und submikroskopischer Auflösung
REM-Aufnahme einer polykristallinen Nickelbasislegierung nach mechanischem Polieren und Ionenätzen
- Materialkonstrast von Mikrobereichen (BSE-Kontrast)
Durch Synthesegas korrodierte und erodierte Oberflöche einerNickelbasislegierung (weiß-Nickelkristalle,
dunkel - Al2O3, grau Mischkristallmatrix)
BSE-Kontrast einer Verschleißgleitschicht aus Teflon mit C-Faser auf Sinterbronze
- Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)
EDX-Spektrum und EDX-maps einer Nickelbasislegierung