REM-Untersuchungen / Bildergalerie

Abbildende Untersuchungen (Sekundärelektronenkontraste) mit mikroskopischer und submikroskopischer Auflösung

GaN auf Si(001)
Epitaktisch gewachsenes GaN auf einem Si(001)-Substrat

ZnO
3D-Wachstum von ZnO

Nickelbasislegierung nach Oberflächenbehandlung
REM-Aufnahme einer polykristallinen Nickelbasislegierung nach mechanischem Polieren und Ionenätzen

Elektronenmirkoskopieaufnahme von Pollen
REM-Aufnahme von Pollen (in Kooperation mit FNW / ABP)

Optisches Gitter in TiN (in Kooperation mit AMP)

TiN/Ir-Beschichtung auf Si-Oberfläche
TiN/Ir-Beschichtung auf lithografisch modifizierter SiO₂-Oberfläche (in Kooperation mit FEIT / IMOS)

modifizierten SiO2-Oberflächen
TiN/Ir-Beschichtung auf lithografisch modifizierter SiO₂-Oberfläche (in Kooperation mit FEIT / IMOS)

Materialkonstrast von Mikrobereichen (BSE-Kontrast)

Rüchstreuelektronenkontrast einer Nickelbasislegierung
Durch Synthesegas korrodierte und erodierte Oberflache einer Nickelbasislegierung (weiß-Nickelkristalle,
dunkel - Al2O3, grau Mischkristallmatrix)

Rüchstreuelektronenkontrast einer Verschleißgleitschicht
BSE-Kontrast einer Verschleißgleitschicht aus Teflon mit C-Faser auf Sinterbronze

Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

EDX-Analyse einer Nickebasislegierung
EDX-Spektrum und EDX-Maps einer Nickelbasislegierung

Bronzezeitlich in geschmiedeter Metallscheibe und EDX-Analysespektren

TEM-Untersuchung im REM

STEM-Kontrast eines GaAs/AlAs-Systems
Multilayer(GaAs/AlAs)-System im STEM-Kontrast